برچسب - لایه زیرین
پژوهشگران دانشگاه تگزاس در آرلینگتون روش جدیدی ارائه کردهاند که میتواند خواص بالاترین لایه اتمی مواد را، بدون در نظر گرفتن اطلاعات لایههای زیرین، اندازهگیری کند.
کد خبر: ۱۴۰۰۱۴۰
تاریخ انتشار: ۱۴۰۱/۰۸/۲۶
پیشنهاد سردبیر
پرونده ویژه
