برچسب - لایه سطحی مواد
پژوهشگران دانشگاه تگزاس در آرلینگتون روش جدیدی ارائه کردهاند که میتواند خواص بالاترین لایه اتمی مواد را، بدون در نظر گرفتن اطلاعات لایههای زیرین، اندازهگیری کند.
کد خبر: ۱۴۰۰۱۴۰
تاریخ انتشار: ۱۴۰۱/۰۸/۲۶
پیشنهاد سردبیر
پرونده ویژه
